お知らせ
日本分光株式会社製 円二色性分散計 J−８２０AC
オペレーションソフト： JASCOスペクトルマネージャー
ペルチェ式恒温装置
分光用クライオスタット（株式会社ユニソク製、USP-203CD-B）
仕様：
測定波長範囲： 163 nm 〜 1100nm
分解能： 0.1nm 以下 （＠253.7nm）
最高スキャンスピード： 10,000 nm／min （166.7nm）
スキャン方式： 連続スキャン、ステップスキャン、自動レスポンススキャン
所有機器一覧・予約
- 600MHz核磁気共鳴装置 （Bruker AVANCE III）
- 400MHz核磁気共鳴装置（JNM-ECS400）＜窓側＞
- 400MHz核磁気共鳴装置（JNM-ECS400）＜廊下側＞
- 電子スピン共鳴装置(Bruker EMXmicro)
- 質量分析装置 （JMS-700）
- 質量分析装置（JMS-S3000）
- JMS-S3000用リモートPC
- 質量分析装置（Bruker Autoflex III）
- ガスクロマトグラフ質量分析計 GCMS-QP2010 Ultra
- 質量分析装置（JMS-T100LP）
- ICP発光分析装置（ICPS-7510）
- 円二色性分光光度計（J-820 AC）
- 旋光計 （P-2200）
- 赤外分光計 （FT/IR 6200、IRT-5000）
